振動會導致產(chǎn)品內(nèi)的動態(tài)位移，可引起或促進結構疲勞和機械磨損。

 

具體影響如下：

 

1. 導線的磨損、 光學上或機械上的失調；

 

2. 緊固件/器件的松動 、元器件失效；

 

3. 電氣短路、 軸承摩擦腐蝕；

 

4. 密封失效、 結構件裂紋或斷裂等。

 

 

振動試驗的目的是確定樣品的機械薄弱環(huán)節(jié)和或特性降低情況。用這些資料，結合有關規(guī)范用以判定樣品是否可以接收。在某些情況下，本試驗方法可用于論證樣品的機械結構完好性和或研究它們的動態(tài)特性。

 

 

GB/T 2423.10-2019 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 Fc:振動(正弦)》

 

GB/T 2423.10給出了一個標準的試驗方法過程，用以確定元件、設備和其他產(chǎn)品經(jīng)受規(guī)定嚴酷度正弦振動的能力。如果試驗要求采用非包裝形式，表明受試樣品是不帶包裝的。然而，如果試驗要求樣品帶包裝，就用帶包裝的產(chǎn)品，并將產(chǎn)品及其包裝視為一個受試樣品。

 

 

振動試驗的嚴酷等級由三個參數(shù)共同確定。即頻率范圍、振動幅值和耐久試驗的持續(xù)時間(按掃頻循環(huán)數(shù)或時間給出)。

 

頻率范圍（Hz）下限頻率：0.1、15、10、55、100；

 

上限頻率：10、20、35、55、100、、2000、5000。

 

 

頻率范圍： 5Hz～2000Hz；

 

z大加速度值：1960m/s²;

 

推力：≤6000N；

 

z大位移：50mmp-p。